| 标题 |
| CTCS3级列控系统RAM指标评价方法研究(31 卷) |
| 英文标题 |
| Research on the Evaluation Method for the RAM Goals of CTCS3 |
| 摘要 |
| 为评价CTCS3级列控系统的可靠性、可用性和可维护性（RAM），对系统逐层向下分解并建立可靠性框图，可靠性框图的最低层次定位到现场可更换的最小部件。通过可靠性预计和可维护性预计得出最小可更换部件的故障率和维修率，然后利用马尔可夫过程计算模型，根据可靠性框图自下而 |
| 作者 |
| 新闻作者:邸丽清，袁湘鄂，王永年 |
| 关键字 |
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